手機整機可靠性測試的試（shì）驗（yàn）項目（mù）以及相關測試標準

隨著科技的發展，手（shǒu）機更新換代的非常快，手機做為人們日常生活不可缺少的通信工具（jù），在向市場上（shàng）大量出售前，需（xū）要做整機可（kě）靠性測試，以全方位保障手機的品（pǐn）質與人們的使用安全。那麽手機整機可（kě）靠性（xìng）測試需要做哪（nǎ）些項目呢？下麵劍喬儀器（qì）小編為大家仔（zǎi）細講解下手（shǒu）機整機可靠性測試的試驗項目以及相關測試標準。

一：手機整機環境可靠性測試

由於手（shǒu）機（jī）是移動設備，這就決定了它隨時會麵（miàn）臨冬天的嚴寒與靜電，夏季的酷暑與潮濕，而（ér）高（gāo）低溫環境測試就是為了避免手機產生嚴重失效現象而進行的測（cè）試。最為容易想象的就是高低溫環境測試（shì），它會（huì）給予手機（jī）一個初始測（cè）試狀態如待機、關機或者（zhě）充電，定時檢查手機在測試中的狀況。

1）高低溫環（huán）境測試

高低溫試驗是高溫試驗和低溫試驗的的簡稱，試驗目的是（shì）評價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響（xiǎng）。高低溫（wēn）試驗的（de）試驗條件、試（shì）驗（yàn）實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗室環境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗室環境試驗方法低（dī）溫試驗》中都有詳細的（de）規定。

2）鹽霧（wù）測試

鹽（yán）霧箱條件（jiàn）： 5+1％NaCl溶液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱箱條件：＋40+2°，93+3％RH，持續（xù）時間（jiān）48H。

3）ESD測試

手機在接（jiē）充電器和不接充電器的情況下（xià），分別測試手（shǒu）機在常用使用狀態下的ESD 性（xìng）能，待機和通（tōng）話狀態是必（bì）須要測試的（de）狀態。 

接觸放電為±6KV,對裸露（lù）的金屬件（如導電（diàn）裝（zhuāng）飾圈、裝飾牌不（bú）同的位置）、水平耦合板、垂直耦合板（bǎn）連續放電各 10次後對地放電,要求：LCD 顯示和通話狀況應良好，應無數據丟（diū）失和功能損壞等；接觸（chù）放電每點每個測試電壓連續放電 10次(加嚴測試（shì）±20 次)。 

空氣（qì）放電±10K，對翻（fān）蓋底殼/麵（miàn）殼、大小（xiǎo）LCD四周、接（jiē）縫、受話器、免提接口、I/O口（kǒu）、主（zhǔ）機按鍵及主機（jī）底殼等處進行放電，被選點每點每個測試電壓放電10 次(加（jiā）嚴測試±20 次)，每放電一（yī）次需對地放（fàng）電，要求LCD顯示和通話狀況應（yīng）良好（hǎo），應無數據丟失和（hé）功能損（sǔn）壞。 

完（wán）成後作好（hǎo）記錄（lù）。所需手機數（shù）為2 部。 

外（wài）置天線 ESD 測試要求：天線電鍍裝（zhuāng）飾要求測試接（jiē）觸放電±8KV，空（kōng）氣放電±15KV，不允許出現破壞性問題（出現重啟（qǐ）或重（chóng）裝電池不可恢複的問題） 

參考標準: 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁兼容試驗和（hé）測量技術靜電放電抗擾度試驗  

YD/T 1539-2006移動通（tōng）信手持（chí）機可靠性技術要求和測試方法。

4）極限溫度充電測試

5）溫升測試

二、手機整機機械類可靠性（xìng）測（cè）試

這類測試大多數屬於破壞性的測（cè）試，我（wǒ）們可以理解成測試（shì）產品的一個（gè）極限狀態。簡單的（de）說就是看看產品（pǐn）的（de）可靠度，比如10厘米的微跌測試，對手機的正麵和（hé）反麵各（gè）微跌200次，手機LCD不能出現白點或者白斑，TP滑動（dòng）功能全（quán）領域有效，如果測試通過糖心短视频VLOG柠檬猫認為該產品在這方麵（miàn）具備可靠度（dù）。

1）跌落測試

分定向跌落、自由跌落、重複跌落、滾筒跌落四種跌落方式。

試驗樣機插SIM 卡，並裝配電池，手機處（chù）於正常工作狀態。將樣品放置在垂直（zhí）跌（diē）落試驗儀上，將高度調到 1.0m ，進行垂直跌落測試。每個麵各測 2 次，共跌落12 次。跌落測試（shì）後，首（shǒu）先對樣品進行外（wài）觀、功能，結構檢測，記錄測試狀（zhuàng）態（tài）後，再（zài）進行拆機檢測。

試驗樣機插SIM 卡，並裝配電池，手機處於正常工作狀態（tài）。 將樣品放置在 0.5m 的滾（gǔn）筒跌落試驗機中，進（jìn）行跌落測試，每 50 次對（duì）手機的外（wài）觀，功能，結構做檢（jiǎn）測，累（lèi）計跌落300 次循環。 測試完成後，對手機進行功能，結構，裝配檢測（要求必須拆（chāi）機檢查）。

2）軟壓測試

將手（shǒu）機正麵朝上，放置在支撐部件的中心位置上，樣品處於開機狀態並鎖住鍵盤。彈性擠壓頭以 25kg 的力、每分鍾 15～30 次的頻率（lǜ）擠壓樣品中間部（bù）位（wèi）1000次（cì），分（fèn）別（bié）在400、600、800、1000 次（cì）進（jìn）行外觀檢（jiǎn）查和話音通信檢查，外觀、功能應正常（cháng），話音通信（xìn）應能正常（cháng）進行。測試結束後進行功能、外觀及裝配檢（jiǎn）測應無異（yì）常。

3）硬壓測試

4）小球衝擊

5）水（shuǐ）波紋測（cè）試

6）USB/耳機接口推力測試

7）正弦振動測試

    振動頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密度)：0.96m2/S3 持續時間: 每方向1小時(x,y,z三個方向)。 試驗過程中檢查手機有無掉卡、關（guān）機等（děng）不良（liáng）現象，測試結束後功能檢查應無異常。

8）沙塵實驗

9）包裝振動

三、手機整（zhěng）機壽（shòu）命類測試

    實際研製過程中，壽命測試一般為加速壽命測試，以便縮短測（cè）試周期，降低生產成本，讓產品在短時間內（nèi）盡可（kě）能暴露產品的缺陷，評估產品的穩定性。

1）SIM/T卡/內存（cún）卡接入和（hé）拔出測試

    插入SIM 卡再取出，累計1000 次。每插拔（bá）50 次開機檢查一次，手機不（bú）能有不識卡現象，測試完畢手（shǒu）機功能應（yīng）正常。

    插入（rù）內存卡（kǎ）再取出，累計（jì） 1000 次。不支持熱插拔的機型，每插拔 100 次（cì）開機檢查一次，支持熱插拔的機型必須在開機狀態下測試，每插拔 100 次檢查一次，要求測試後存儲卡結構正常（不（bú）能破裂），手機無不識卡問題，內存卡中的內容不可丟失。

2）USBUSB/耳（ěr）機接口接入和拔出（chū）測試（shì）

    將耳機垂直插（chā）入（rù）耳機孔後，再垂直拔（bá）出，如此反複，累計 3000 次。功能（néng）應正常。

插入數據（jù）線再拔下，累計3000次。每插拔100次開機檢（jiǎn）查一次（cì），手機功能應正常。

3）按鍵測試

    以 40~60 次/分鍾的速度，不小於 10N 的力（lì）度均勻按鍵，Dome：15 萬次以（yǐ）上；Switch：10 萬次；多維（wéi）導（dǎo）航鍵：6 萬次。每2萬次檢查1次。Slide：1.5 萬次；試驗後功能應正常。

4）觸摸屏點擊測試

    將手機固定在點擊測試儀器上， 用固定在尖端的（de）隨機手寫筆，加載（zǎi） 150g 的力，對觸摸屏點擊25 萬次， 每5 萬次對屏幕進行檢查並清潔；手機處於待（dài）機狀（zhuàng）態；測（cè）試完畢後（hòu），觸摸屏表麵無（wú）損傷，功能正常。點擊速率：約1 次/秒

5）觸摸（mō）屏（píng）劃線測試

    將手（shǒu）機固定在劃線（xiàn）測試儀器上， 用手機自帶的手寫筆（bǐ）沿（yán）觸摸屏（píng）的對角（jiǎo）線進行劃線測試，劃線壓力為150g 力， 測試次數10 萬次 （反複（fù）來回為 2 次），每1 萬次對（duì）觸摸屏功能、結構和外觀進行檢測，並（bìng）對觸（chù）摸屏（píng）進行清潔（jié）。測（cè）試結束後，觸摸屏功能應正常，外（wài）觀無損傷（劃痕）。 （劃線速（sù）度：約30mm/秒）

6）聽筒（tǒng）壽命測試

    使用0.035W， PINK  20Hz-20KHz的120小時內無異常（cháng）現象。

7）馬達測試

8）揚聲（shēng）器測（cè）試

9）受話器測試

四、手機整機表麵（miàn）處理類測試

1）紙帶/羊毛氈耐磨測試

    使用多（duō）功能耐磨儀器，羊毛氈，施加 1000g 的力，在產品表麵（有表麵處理工（gōng）藝）以 40 次/分鍾～60 次/分鍾的速度，以 30mm 左右的行（háng）程，在樣本表麵來回磨擦，測試 2000 次(1000 個循環)後 觀（guān）察外觀。

2）硬（yìng）度測試

    觸摸屏硬度測試，用三菱牌 2H 鉛（qiān）筆劃產品表麵，在 45°的角度，以 500g的力度在被測殼（ké）表麵劃兩筆（bǐ）劃刻後用橡皮擦試後檢查應（yīng）無明顯劃痕。

3）噴（pēn）塗百格測試

4）耐（nài）醇性測（cè）試

5）化妝品測試

6）耐壓測（cè）試

7）振動耐磨測試。

五、手機整機三防測試

    區別於傳統的三防“防黴菌、防潮濕、防鹽霧”，手機整機的三防測（cè）試主要為防塵、防水、防跌（diē）落震動測試。

    如防塵可靠性測（cè）試（shì），將（jiāng）手機（jī）放置在粉塵試驗（yàn）箱內（nèi）， 樣品體積（jī）綜合（hé）不得超過試驗箱有效空間的 1/3，底麵積不得超過有效水平在積（jī）的（de） 1/2；與實驗（yàn）箱內壁距離（lí）應不小於 100mm。啟動粉塵試驗箱，使氣流能夠將灰塵均勻緩慢地沉降在試驗樣（yàng）品上，最大值不得（dé）超過 2m/s。測試時間到後，將手機在粉塵箱內靜（jìng）置 2H，進行功能、外觀及裝配檢測。

六（liù）、 國內（nèi）手機可靠性（xìng）測試方麵（miàn）的主要標準

1）GB/T 15844.2-1995 移動通（tōng）信調頻無線電話機環境要求和試驗方法。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數字蜂窩移動一動通信網通用分組無限業務設備測試方法：移動台。

3）GB/T 15844.3-1995 移動通信調頻無線電話（huà）機可靠性要求和試驗方法。 

4）YD/T 965-1998  電信終端（duān）設備的安全要求和試驗方法。 

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數字900/1800MHz TDMA 數字（zì）蜂窩移動通信係統電磁兼容性限值和測（cè）量（liàng）方法  第一部分：移動台及其（qí）輔助設備。

對手機整機進行可靠性測試，需要對測試過程的失效現象（xiàng）進行分析，因此在測試過程（chéng）中應把手機的失效現象準確（què）詳細的描（miáo）述出來十（shí）分重要（yào），從而才能便於後（hòu）續分析、改進設計，為提高手機可靠性、耐久性。更多詳細資料歡迎谘詢廣（guǎng）東劍喬【劍喬（qiáo）儀器】廠家 官網：www.czwdw.cn